Resumo |
O ditelureto de molibdênio (MoTe2) pertence a classe de materiais bidimensionais denominados dicalcogenetos de metais de transição (TMDs). O MoTe2 é encontrado na fase semicondutora 2H, fase metálica 1T, e nas fases semimetálicas 1T’ e Td, caracterizadas por sua estabilidade, estrutura cristalina e propriedades optoeletrônicas. Neste trabalho, filmes finos de óxido de molibdênio foram sintetizados em substratos de silício por pulverização catódica (sputtering) do molibdênio. Estes filmes passaram então por um processo de annealing sob vapor de telúrio, dentro de um sistema de sublimação em espaço reduzido (CSS, closed space sublimation ). Ajustando-se a temperatura e o tempo de síntese, obtiveram-se filmes de MoTe2 na fase 1T’ com 5 nm de espessura. A morfologia e a composição química desses filmes foram investigadas por microscopia eletrônica de varredura (MEV) e espectroscopia de dispersão de energia de raio-X (EDS). Essas análises mostraram que o telúrio (Te) está espalhado sobre as superfícies dos filmes, formando pequenos cristais localizados, cuja distribuição depende do tempo de telurização. Através de medidas de espectroscopia Raman, foi possível observar que entre estes cristalitos há também a presença de Te amorfo. O Te amorfo é metaestável e tem sua estrutura facilmente afetada por fatores externos, como luz, calor e pressão. Trabalhos recentes têm mostrado que a incidência de luz no MoTe2 pode dar origem a novos estados estáveis do Te levando-o a cristalizar-se na superfície do filme. Mas há na literatura questionamentos se essas mudanças são consequências de um efeito térmico ou se são consequência puramente de fenômenos fotoinduzidos. De acordo com os resultados apresentados aqui, a cristalização do Te no MoTe2 ocorre devido à nucleação e crescimento da nova fase cristalina no material. Neste trabalho foi utilizado, um modelo baseado na teoria KJMA modificada, proposta por Farjas, J. et al. (2006), que descreve o fenômeno tanto no regime isotérmico quanto no não isotérmico. O crescimento da nova fase se manifesta pelos modos de vibração do telúrio cristalino, obtido por espectroscopia Raman, através da evolução destes ao longo do tempo de exposição ao laser. O expoente característico do crescimento da fase cristalina do Te (expoente de Avrami) foi obtido, e então comparado com a rugosidade da amostra medida por microscopia de força atômica (AFM). Os resultados preliminares indicam que à medida que o tempo de telurização aumenta, a superfície da amostra fica mais heterogênea. Este resultado é consistente com a diminuição do expoente de Avrami observada. |