“Bicentenário da Independência: 200 anos de ciência, tecnologia e inovação no Brasil e 96 anos de contribuição da UFV”.
8 a 10 de novembro de 2022
Trabalho 16927
| ISSN | 2237-9045 |
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| Instituição | Universidade Federal de Viçosa |
| Nível | Graduação |
| Modalidade | Pesquisa |
| Área de conhecimento | Ciências Exatas e Tecnológicas |
| Área temática | Física da Matéria Condensada |
| Setor | Departamento de Física |
| Bolsa | PIBIC/CNPq |
| Conclusão de bolsa | Sim |
| Apoio financeiro | CNPq |
| Primeiro autor | Matheus Almeida de Souza |
| Orientador | EDUARDO NERY DUARTE DE ARAUJO |
| Título | Identificando a Orientação Cristalográfica de Nanofios de Telúrio Usando Espectroscopia Raman Polarizado Resolvida em Ângulo |
| Resumo | O telúrio (Te) é um calcogênio da família 6A da tabela periódica, semicondutor do tipo p. O Te bulk possui um gap de 0,35 eV, enquanto as monocamadas de Te possuem um gap de 1 eV. A estrutura básica Te é uma forma trigonal em uma cadeia helicoidal ao longo do eixo c. O empacotamento das cadeias helicoidais se deve às forças de Van der Waals puras no plano basal ao longo do eixo a. Os átomos de Te na estrutura trigonal perpendiculares ao eixo a e ao longo da cadeia helicoidais no eixo c são unidos por ligações covalentes primárias. Devido à sua estrutura cristalina anisotrópica, certas propriedades físicas do Te cristalino serão diferentes conforme as diferentes direções. A síntese de Te é dividida em duas categorias: crescimento de nanoestrutura (1D) ao longo do eixo c, sendo que o diâmetro dos nanofios varia de algumas centenas de nanômetros, e o crescimento de nanoplacas de Te hexagonais bidimensionais (2D) que compartilham a mesma geometria cristalina de sua célula unitária basal, sendo que a espessura e a dimensão lateral da nanoplaca hexagonal de Te atingem várias centenas de nanômetros. Os modos de vibração do telúrio cristalino são os picos associados aos fônons ópticos de simetria: E1 com frequência 91 cm−1 causado pela rotação do eixo a, E2 com frequência 140 cm−1 relacionado ao estiramento assimétrico principalmente ao longo do eixo c e A1 com frequência 122 cm−1 correspondendo ao modo de expansão da cadeia em que cada átomo se move perpendicularmente ao plano basal. A natureza anisotrópica da estrutura do Te cristalino é revelada por espectroscopia Raman polarizado resolvida em ângulo. Esta técnica foi empregada no presente trabalho para estudar a simetria e a orientação cristalográfica de nanofios de Te produzidos sobre Si(111) por deposição na fase vapor. Para a realização da medidas de espectroscopia Raman polarizado resolvido em ângulo foram realizas em uma configuração onde as polarizações da luz incidente e da luz espalhada permanecem fixas, enquanto a posição angular da amostra é modificada. Foram obtidas as simetrias dos principais modos de vibração Raman do t-Te, a partir da dependência da intensidade da luz espalhada com o ângulo formado entre a direção da polarização da luz incidente e o eixo de simetria c. Esta resposta óptica permitiu caracterizar a direção cristalográfica dos nanofios de Te sintetizados neste trabalho, bem como realizar um estudo referente à dependência angular da intensidade da luz espalhada com o diâmetro dessas estruturas. |
| Palavras-chave | Raman polarizado, nanofios de Te, direção cristalográfica |
| Forma de apresentação..... | Vídeo |
| Link para apresentação | Vídeo |
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