Conexão de Saberes e Mundialização
19 a 24 de outubro de 2015
Trabalho 3701
| ISSN | 2237-9045 |
|---|---|
| Instituição | Universidade Federal de Viçosa |
| Nível | Graduação |
| Modalidade | Pesquisa |
| Área de conhecimento | Ciências Exatas e Tecnológicas |
| Área temática | Física teórica, experimental e de simulação |
| Setor | Departamento de Física |
| Bolsa | FAPEMIG |
| Conclusão de bolsa | Sim |
| Apoio financeiro | FAPEMIG |
| Primeiro autor | Rafael dos Reis Barreto |
| Orientador | SUKARNO OLAVO FERREIRA |
| Título | Crescimento e caracterização de filmes finos de Si/CdTe através do método de evaporação térmica e perfilometria óptica |
| Resumo | Neste trabalho iremos dividi-lo em duas partes, a primeira relacionada a criação dos filmes finos,entender como é o funcionamento de uma evaporadora térmica, entender os princípios do vácuo,como montar um sistema de vácuo eficaz, como é utilizado a evaporadora. Vamos entender como funciona a teoria de vácuo e o comportamento de particular emitidas pela evaporação. Apresentaremos os tipos de bombas que são usadas em uma evaporadora térmica, como são seus componentes e funcionamento. Na primeira parte podemos dividi-la em duas, a primeira se deve a construção da evaporadora térmica. Visto como é o funcionamento da evaporadora, quais os possíveis sistemas de montagem e como foi feita a construção da evaporadora usada para a criação dos filmes analizados neste trabalho. Em seguida, após os testes da evaporadora concluídos, foram crecidos filmes de CdTe sobre um substrato de silício. Na segunda parte, vamos entender como podemos caracterizar os filmes finos criados utilizando um método óptico , através de lazer emitidos sobre a amostra, equipamento tal conhecido como perfilômetro lazer. Neste trabalho será mostrado duas técnicas de deposição de substratos para criar filmes finos: Sputtering e evaporação térmica. Entenderemos seus conceitos e suas aplicações e quais as vantagens e desvantagens de se usar o método. Assim como tecnicas de deposição de amostras no substratos e tecnicas de medidas da espessura do filme depositado. A parte 2 desde trabalho consiste na caracterização das amostras obtidas na parte 1. Foram apresentados alguns métodos de analise de materiais e o método adotado neste trabalho foi o de perfilômetria óptica. Discutimos o funcionamento do perfilômetro, como deve ser feito os procedimentos de calibração, analise e manuseio do equipamento. Após entendido esses aspectos realizamos uma varredura completa nas amostras, observamos como o filme foi depositado, assim como em uma perspectiva 3D e comparar com os dados de espessura obtidos pelo cristal de quartzo. Temos como objetivo construir um equipamento para deposição por evaporação térmica e explicar seu funcionamento, componentes e sua montagem. Para tanto será feita uma revisão dos principais tipos de bombas de vácuo, uma descrição dos métodos de deposição. Finalmente, descreveremos o sistema que foi construído e o s primeiros testes de funcionamento. |
| Palavras-chave | Filmes finos, evaporadora, perfilometria |
| Forma de apresentação..... | Painel |